PCTS-2000热释电系数测试系统采用直接测量法测量热释电材料在均匀升温过程中释放出来的热释电电流，计算得到本征热释电系数。

PCTS-2000热释电系数测试系统采用直接测量法测量热释电材料在均匀升温过程中释放出来的热释电电流，计算得到本征热释电系数，适用于各种热释电薄膜、厚膜、单晶、陶瓷材料等的测试。

热释电系数测试主要性能指标：

a. 测量范围：0.1 pA ～ 1 μA

b. 测量精度：10 fA

c. 样品类型：单晶、块体、膜

d. 最大样品厚度：10 mm

e. 最大样品尺寸：Φ30 mm

f. 样品形状：不限

g. 温度范围：RT ～ 260 ℃

h. 控温精度：±0.1 ℃

i. 升降温速率：1～10 ℃/min

j. 具有控温故障诊断监控、超温自动断电保护功能

本测试系统由主控器、高温测试箱（配热释电测试夹具）、计算机及系统软件部分组成。主控器实现收集热释电电流、与PC通讯等功能，系统软件包括可视化数据采集和管理功能，测试时，按要求安装样片后，一键启动热释电系数测量，测量过程曲线和测试结果自动保存。

配置的高温测试箱，以电阻丝为加热元件，采用T型热电偶和可编程温度控制器。炉膛采用全金属炉膛，温度可达260℃，控温精度±0.1℃；同时设有通气接口，可用于惰性气体下使用。具有温度场均衡、控温准、升降温速率快等优点。

先后有华中科技大学、四川大学、南京理工大学、上海师范大学、河北大学、湖北大学、江西科技学院等单位选购 PCTS-2000热释电系数测试系统，已助力客户在ACS AMI、J AM CERAM SOC、ACTA MATER等国内外*期刊发表优秀论文，产品详细资料请咨询我司。